The phenomenon where electrons in a conductor can cause the movement of metal ions, leading to failures in microelectronic devices.

एक ऐसे गुणनफल का जो एक चालक में इलेक्ट्रॉनों के कारण धातु के आयनों की गति का कारण बन सकता है, जिससे माइक्रोइलेक्ट्रॉनिक उपकरणों में विफलता हो सकती है।

English Usage: Electromigration can lead to circuit failures in advanced semiconductor devices.

Hindi Usage: इलेक्ट्रोमाइग्रेशन उन्नत सेमीकंडक्टर उपकरणों में सर्किट की विफलता का कारण बन सकता है।