The measurement and study of the change in polarization as light reflects off a surface, used primarily in characterizing thin films.

एक सतह पर प्रकाश के परावर्तन के दौरान ध्रुवण के परिवर्तन का मापन और अध्ययन, जो मुख्य रूप से पतली फ़िल्मों की विशेषता बताने के लिए उपयोग किया जाता है।

English Usage: The researchers used ellipsometry to determine the thickness of the thin film on the semiconductor.

Hindi Usage: शोधकर्ताओं ने अर्ध-चालक पर पतली फिल्म की मोटाई निर्धारित करने के लिए इलिप्सोमेट्री का उपयोग किया।